單波長X熒光硅含量分析儀的原理及優勢介紹

　　單波長X熒光硅含量分析儀是由低功率X射線管發射的多波長X射線螢光，由雙曲面彎晶光學元件捕獲并聚焦，照射一個具有合適波長的單色X射線，可以激發樣品盒中被測樣品上硅元素K層中的電子，形成一個小點。單色主光束激發樣品并發射次級特征熒光X射線。只有波長為0.713nm的K被硅元素激發，通過第二雙曲彎曲晶體光學元件收集，通過適當的檢測器測量X射線熒光，然后使用校準方程轉換為被測樣品中的硅含量。
 

　　單波長X熒光硅含量分析儀的工作原理：
 

　　低功率X射線管發出的多波長X射線熒光被雙曲面彎曲晶體光學元件捕獲并聚焦，并將波長合適的能夠激發硅元素K層電子的單色X射線照射在樣品盒中的被測樣品上，形成一個小點。單色主光束激發樣品并發射次級特征熒光X射線。只有波長為0.713nm的K被硅元素激發，通過第二雙曲彎曲晶體光學元件收集，通過適當的檢測器測量X射線熒光，然后使用校準方程轉換為被測樣品中的硅含量。
 

　　單波長X熒光硅含量分析儀的產品優勢：
 

　　1、樣品制備和儀器操作過程簡單，檢測速度快，分析時間300秒；
 

　　2、無樣品損失或轉化，無耗氣量，高溫操作；
 

　　3、直接檢測，無需樣品預處理；超低維護和更少校準頻率；
 

　　4、體積小，可放置在任何實驗室，即插即用；樣品杯膜無接觸和切割；
 

　　5、單波長X射線熒光硅分析儀配有標準工作站，可以有更多的數據存儲空間，同時實現LIMS功能；
 

　　6、分析儀中沒有運動部件；標準的12位自動取樣器可以真正提高效率。